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TopLine fournit une large gamme de circuits intégrés factices avec un système interne « Daisy Chain ». Le système « Daisy Chain » permet aux ingénieurs de récolter des informations précieuses grâce à ce simple outil, afin de connaitre les causes de défaillances. L’analyse de l’échec ouvre la voie aux scientifiques et aux ingénieurs afin d’améliorer les processus d’assemblages.
La recherche commence par le montage des systèmes « Daisy Chain » sur une carte de test avec un système de circuit complémentaire « Daisy Chain ». Cette combinaison créer un court-circuit avec une résistance proche de zéro ohms mesurée à des points de test sur la carte de test. La carte de test est soumise à de rudes conditions environnementales, tels que des chutes, des vibrations, le gèle et la chaleur jusqu’à ce qu’il y a une rupture des connexions.
Un échec est facilement mesuré si le système « Daisy Chain » devient un circuit ouvert (ohms). L’erreur peut être observée et mesurée avec un simple ohmmètre.
Il est préférable d’utiliser des composants de circuits intégrés factices avec un système « Daisy Chain » plutôt que des interfaces de production. Le système « Daisy Chain » permet de réaliser un simple test de «Réussite /Échec » avec une détection facile des bonnes et des mauvaises conditions.
En faisant des analyses et des essais, les chercheurs peuvent faire des améliorations dans le système d’assemblage. Les ingénieurs en application chez TopLine sont prêts à vous aider à sélectionner le système « Daisy Chain » adapté à vos besoins.
La somme total de résistance de 2 ports « Daisy Chain » est ≤ 50mΩ et généralement mesurée entre les points de test T1 et T2. Le niveau de résistance dépend autant de la longueur du circuit que de la résistivité des matériaux tels que le CU (cuivre), Au (or), Ag (argent), Al (aluminium), l'Alliage (SAC or SnPb), etc.